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Publicación | |
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Título: | SOFT ERROR RATE COMPARISON OF 6T AND 8T SRAM ICS USING MONO-ENERGETIC PROTON AND NEUTRON IRRADIATION SOURCES |
Título de la revista: | MICROELECTRONICS RELIABILITY |
Tipo de aportación: | ARTICULO |
Número de volumen: | 78 |
Páginas de la publicación: | 38 - 45 |
Año de la publicación: | 2017 |
Autores: |
DANIEL MALAGÓN S.A. BOTA G. TORRENS X. GILI JAVIER PRAENA RODRÍGUEZ B.FERNÁNDEZ MIGUEL MACÍAS JOSE MANUEL QUESADA-MOLINA CARLOS GUERRERO -SÁNCHEZ MARIA CARMEN JIMENEZ-RAMOS FRANCISCO JAVIER GARCIA-LOPEZ J. L. MERINO J SEGURA |